Elcometer345涂层测厚仪

 

 

产品特点

  Elcometer345涂层测厚仪为应用非常广泛的仪器。具有整体式与分离式两种形式探头,可测量铁基(F)、非铁基(F)或铁基及非铁基(FNF)材料的涂层厚度,总会有一种仪器满足用户的各种要求。
  该仪器按照操作者角度进行设计,使用简单。用户可自定义简单的数据统计,可复查平均值、标准偏差、读数的个数和最大、最小读数。这些统计数据可以打印输出。
  键盘锁住功能可防止意外事件发生,避免重新校准.
  mm或um与mils可相互转换
  整体式仪器采用"大脚"探头,性能更加稳定
  平面、曲面和喷砂表面
  读数率快
  两点校准

技术参数

名称

范围

分辨率

精确度*

型号选择

μm

mils

公制

英制

公制

英制

Elcometer345铁基整体

0-1500

0-60

0-20μm:
0.1μm

0-1mils:
0.01 mils

±1-3%或±2.5μm

±1-3%或±0.1 mils

A345FB-I1

Elcometer345铁基分离

0-1500

0-60

A345FB-S1

Elcometer345非铁基整体

0-1500

0-60

0-20μm:
0.1μm

0-1mils:
0.01 mils

±1-3%或±2.5μm

±1-3%或±0.1 mils

A345NB-I1

Elcometer345非铁基分离

0-1500

0-60

A345NB-S1

Elcometer345两用FNF整体

0-1500

0-60

0-20μm:
0.1μm

0-1mils:
0.01 mils

±1-3%或±2.5μm

±1-3%或±0.1 mils

A345FNFBI1

Elcometer345两用FNF分离

0-1500

0-60

A345FNFBS1

  精确度*:按照接近所要求的厚度校准时为±1% ,若无界定范围内的校准,则为±3% 。
  FNF专利号 GB 2306009B,USA 5886522

 

   
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