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高级多功能超声波测厚仪
概述
38DL PLUS测厚仪是一款开创超声测厚技术新时代的创新型仪器。这款手持式测厚仪可完美地适用于几乎所有超声测厚应用，而且与所有双晶和单晶探头完全兼容。功能齐全的38DL PLUS测厚仪可用于各种应用，包括使用双晶探头对内壁腐蚀的管件进行的管壁减薄的测量，以及使用单晶探头对薄壁或多层材料进行的极其精确的壁厚测量。
38DL PLUS的标准配置带有很多既强大又易于使用的测量功能，以及一些专用于某些特殊应用的软件选项。其密封机壳的设计符合IP67评级要求，可以抵御极其潮湿或多沙尘的严酷的环境条件。彩色透反VGA显示功能使得测厚仪显示屏无论在明亮的阳光下还是在完全的黑暗中都能具有极佳的可视性。测厚仪的键区既简洁又符合人体工程学的要求。操作人员使用左手或右手即可轻易访问所有功能。
主要特性
可与双晶和单晶探头兼容
宽泛的厚度范围：0.08毫米～635毫米，根据材料和所选探头而定
使用双晶探头进行腐蚀测厚
穿透涂层和回波到回波测量功能，用于测量表面带有漆层和涂层的材料
内部氧化层/沉积物软件选项
对于所有探头，标准分辨率为0.01毫米
使用频率范围为2.25 MHz～30 MHz的单晶探头，高分辨率软件选项可进行分辨率为0.001毫米的厚度测量
多层软件选项可对多达4个不同层同时进行测量
高穿透软件选项用于测量纤维玻璃、橡胶及厚铸件等具有高衰减性的材料
厚度、声速和渡越时间测量
差分模式和缩减率模式
时基B扫描模式；每次扫查可获得10000个可查读数
带有数字式过滤器的Olympus高动态增益技术
用于自定义V声程补偿的V声程创建功能
设计符合EN15317标准。
测量功能：穿透涂层、穿透漆层回波到回波、EMAT兼容、最小值/最大值模式、两个报警模式、差分模式、B扫描、自动调用应用、温度补偿、平均值/最小值模式
袖珍型，仅重0.814公斤
坚固耐用，设计符合IP67标准
爆炸性气氛：通过了美军标准MIL-STD-810F方法511.4程序I中规定的测试，可在国家防火协会规范（NFPA 70）500节I级2分段D组中定义的爆炸性气氛环境中安全操作
防撞击测试：通过了美军标准MIL-STD-810F方法516.5程序I中规定的测试，每轴6个循环，15 g，11 msec半弦波
防振动测试：通过了美军标准MIL-STD-810F方法514.5程序I附录C图6中的测试，一般暴露：每轴1小时
带有支架的橡胶保护套
彩色透反VGA显示，带有室内和户外颜色设置，具有极佳的清晰度。
简便操作的设计理念
可用右手或左手单手操作的简洁的键区
可直接访问所有功能的简便易行的操作界面
内置和外置MicroSD存储卡
USB和RS-232通讯端口
可存储475000个厚度读数或20000个波形的字母数字式数据记录器
可连接计算机或显示器的VGA输出
默认或自定义双晶探头设置
默认或自定义单晶探头设置
密码保护功能可以锁住仪器的功能。
技术规格 详细技术参数
测量 |
双晶探头测量模式 |
从激励脉冲后的精确延时到第一个回波之间的时间间隔。 |
穿透涂层测量模式 |
利用单个底面回波（使用D7906-SM和D7908探头），测量金属的实际厚度和涂层厚度。 |
穿透漆层回波到回波测量模式 |
在两个连续底面回波之间的时间间隔，不计漆层或涂层的厚度。 |
单晶探头测量模式 |
模式1：激励脉冲与第一个底面回波之间的时间间隔。
模式2：延迟线回波与第一个底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。
模式3：在激励脉冲之后，位于第一个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔（使用延迟线式或水浸式探头）。
氧化层模式：可选。
多层模式：可选。 |
厚度范围 |
0.080毫米～635.00毫米，视材料、探头表面条件、温度和所选配置而定。 |
材料声速范围 |
0.508 mm/μs～13.998 mm/μs |
分辨率（可选择） |
低分辨率：0.1毫米
标准分辨率：0.01毫米
高分辨率（可选项）：0.001毫米 |
探头频率范围 |
标准：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB）
高穿透（可选项）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） |
标准配置
38DL PLUS数字式超声测厚仪，交流电源或电池供电，50 Hz～60 Hz
标准双晶探头套装盒（可选单晶探头）
充电器/AC适配器（100 VAC、115 VAC、230 VAC）
内置数据记录器
GageView接口程序
试块和耦合剂
USB线缆
橡胶保护套，带有支架和颈挂带
用户手册
两年有限担保
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